X射線熒光光譜分析之x射線強度的測量

 

    測量x射線強度時，原則上應當測量分析線下的積分強度，但在波長色散型X射線熒光光譜儀上，晶體一次只能使一種波長的x射線發(fā)生衍射而進入探測器。因此測量分析線峰下的積分強度很不方便，而且很費時間，然而位于zui大強度的2θ位置上的峰值強度可以代表譜線的積分強度，這樣測量就很方便。

 

    測量的方法有三種：

 

1、定時計數(shù)法：在預定時間T內，記錄x射線的光子數(shù)N，強度為I=N/T。定時器和計數(shù)器同時起動，定時時間到，計數(shù)器同時停止。

 

2、定數(shù)計時法：預先設定總計數(shù)N，定時器和計數(shù)器同時起動，當達到所需的計數(shù)N時，定時器和計數(shù)器同時停止，記錄定時器的時間T，強度為I=N/T。

 

3、積分計數(shù)法：測量峰下的積分強度。先將測角器調至被測元素衍射峰的一側，測角器、定時器、計數(shù)器同時啟動，當衍射峰全部掃描完時，測角器，定時器和計數(shù)器同時停下，記錄總計數(shù)N和掃描時間T，計算出強度為I=N/T。